标签:航空航天 - 德州仪器（TI）官方视频课程培训

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TID基础知识: 课程时长：52:03; 视频集数：3; 标签： TID 双极结转移 MOSFET 航空航天 辐射; 航空航天设计界最常见的辐射要求是总电离剂量（TID），也称为总剂量。当电子和质子在用于电子器件中的绝缘的介电层中产生过量电荷时，引起总剂量效应。总剂量效应是累积的，并且在装置退化变得明显之前需要长期暴露于许多辐射事件。因此，卫星或航天器中的电子设备随着时间的推移会累积TID损害，因为它们在连续的辐射水平下运行。虽然电子在绝缘体中是可移动的，但是空穴（带正电的原子）必须通过断开键而移动并且可能陷入缺陷中。器件绝缘体中积累的正电荷的结果导致降级和/或器件故障。氧化物电荷累积影响半导体电路中使用的晶体管的电流 - 电压特性。晶体管的正确操作依赖于当栅极电压通过阈值时将其从低电导（关断）状态切换到高电导（导通）状态的能力。长时间暴露于TID辐射会使阈值电压发生偏移，使得晶体管更容易或更难切换。辐射还可能增加漏电流，导致晶体管的导通和截止状态变得不太可区分。这两种效应都可能最终导致电路故障。对于我们的太空产品，这些影响已在我们的TID辐射报告中进行了表征和总结。


了解TI的增强型产品价值和风险缓解: 课程时长：4:38; 视频集数：1; 标签： MCU 增强型产品 COTS HAST测试 航空航天; “本次会议将回顾增强型产品如何符合TI的各种资格标准，增强型产品系列的优势等。 TI的增强型产品系列是商用现货（COTS）解决方案，具有以下主要优势：制造和组装控制基线不使用纯锡焊盘，焊球或铜焊线 DLA供应商项目图纸（VID或V62）零件编号，无需使用=源控制图纸扩展产品变更通知（PCN）扩展的温度性能（通常为-55°C至+ 125°C或客户指定）独立数据表资格和可靠性报告扩展的HAST测试产品可追溯性产品生命周期长“

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