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有关“射频”的课程有以下5条记录
RFID培训系列
RFID培训系列
课程时长:18:25
视频集数:9
标签: RFID 射频识别 无线连接 TI 射频
本视频通过重点介绍TI的RFID专业知识,开始了RFID培训系列。
TI 15.4 协议栈,以及低功耗远距离传感器到云端解决方案介绍
TI 15.4 协议栈,以及低功耗远距离传感器到云端解决方案介绍
课程时长:49:27
视频集数:1
讲师:吴冰洁
标签: 15.4-Stack SimpleLink 堆栈 射频通信 MCU
TI 15.4-Stack 是基于 IEEE 802.15.4e/g的 射频通信堆栈。它是 SimpleLink CC13xx/CC26x2 软件开发套件 (SDK) 的主要部分,可以为 1GHz以下频段应用或 2.4GHz 应用提供星形拓扑网络支持。TI 15.4-Stack 运行于 TI 的 SimpleLink 微控制器 (MCU) 系列器件之上。低于 1GHz 实施方案具有多种重要优点,例如,在 FCC 频带中实现更远的距离,以及采用跳频更好地防止带内干扰,此外,如果在 CC1352上使用双频带模式,还能够在运行于低于 1GHz TI 15.4-Stack 网络之上时发送 2.4GHz BLE 信标数据包。该完整的堆栈产品还通过完整的端到端、节点到网关解决方案加快客户产品上市的速度。
CC2640R2F硬件射频从设计到成型
CC2640R2F硬件射频从设计到成型
课程时长:1:07:24
视频集数:8
讲师:张信伟
标签: CC2640R2F 射频 硬件测试 BLE 蓝牙
对TI的BLE产品CC2640R2F的硬件、射频、硬件测试等相关知识做了介绍。 内容包括: 产品一览;原理图;器件选型;参考设计,layout布板关键准则;CC2640到CC2640R2F的硬件移植; BT5.0PHY;天线套件介绍;硬件设计流程及认证简介;在线资源介绍和长通信距离测试。
如何测试CC2640的BLE射频指标
如何测试CC2640的BLE射频指标
课程时长:21:33
视频集数:2
讲师:张信伟
标签: CC2640 BLE 射频 DTM PTM
介绍了LE测试方面SIG的规范,TI的DTM和PTM 以及测试CC2640的BLE射频指标的视频演示, 低功耗蓝牙射频测试规范简介和测试平台介绍及典型仪器介绍, 以及在CBT上测试TI的CC2640的演示。
CC1310硬件射频从设计到成型
CC1310硬件射频从设计到成型
课程时长:53:16
视频集数:5
讲师:张信伟
标签: CC1310 射频 MCU sub-1G SimpleLink 微控制器
对TI的sub-1G 产品做了概括性介绍;对CC1310的硬件开发做了剖析:原理图、eBom、layout、调试、天线等;并对中国频段的参考设计做了详细介绍;最后还系统介绍了TI的线上资源。
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