TI空间产品的辐射硬度保证（RHA）工艺
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[音乐播放] 大家好，我是 Chris Hart。 如果在观看本视频之后， 您想了解有关 TI 航天 产品的更多信息， 请访问 ti.com/space。 感谢您的观看。 今天，我将提供 有关 TI 防辐射 保障或 RHA 资质 审核过程的 简短教程。 在本次课程中， 我将讨论电离 辐射总剂量或 TID 性能如何 随硅加工中的 轻微差异而 变化。 这是有必要 在众多航天 器件中进行 RHA 资质 审核的主要原因。 接下来，我们将详细 讨论我们的 RHA 过程， 然后讨论如何分辨某个 产品是否通过了 RHA 认证。 最后，我将向您展示 如何下载给定产品的 辐射数据。 业界已 存在很多 TID 彻底 改变的案例， 这说明辐射性能 监控对于任务的 成功至关重要。 让我们讨论一些 TI 产品示例，我们可以 在其中直接看到该情况。 当 TI 几年前 收购 Unitrode 时， 双极工艺从 其原始的 Merrimack 和 G 工厂位置转移到 TI 的 Sherman 工厂设施。 由 Sherman 工厂 生产的最初 批次在低剂量率、TID 接触下接受了评估， 显示从 50 千拉德 到 5 千拉德的 显著下降。 通过修改 Sherman 工厂工艺， 我们能够将性能重新 增加到 50 千拉德。 与许多商业器件 不同，我们的 -SP 器件 来自单个工厂 并通过相同的 组装和测试 基地进行加工， 以最大限度地减小 工艺中的差异。 这样做可提供 对最终产品 TID 效应的控制。 我将要谈及的 下一个案例是 LM108。 在本例中，在一个月 之内加工了三个晶圆 批次，展示了从 10 到 100 千拉德的 性能差值。 这就是为何对每个 批次执行 TID 监控 至关重要的原因。 请放心，我们 发现问题并 确保我们的 客户不会接收到 10 千拉德单位。 最后，某些器件， 如 LM124 和 LM139， 可能是普适型 电气解决方案， 但它们在 TID 性能 方面可能有显著变化。 TI 有两款具有类似 电气性能的产品， 它们是以不同的技术 并在不同的工厂中 加工的。 在本例中，一款产品 是 50 千拉德，另一款 是 100 千拉德。 这显示了电气 普适性不一定 在辐射效应 方面等效。 TI 具有极可靠的 用于根据 MIL-PRF-38525 发行 RHA 器件的流程。 TI RHA 流程完全 符合 MIL 标准 883， 测试方法 1019 中 所述的准则。 RHA 流程包含 两个基本步骤 -- 特性评定和 辐射批次验收测试。 我们的 RHA 流程使用 不同的电离辐射总剂量率， 具体取决于所发布的 技术，如下所示。 TI 采用非常 广泛的特性 评定流程以通过 众多的不同变量 了解器件的 TID 性能。 这包含在多个 晶圆上通过 偏置和非偏置 条件评估晶圆 批次变体和 内部晶圆变体。 该特性评定 完成并通过之后， 接着以目标资质 审核剂量执行 RLAT。 为了真正了解 该流程有多么 详尽，我在 RLAT 测试 计划中使用了 BiCMOS 器件并对特性 评定进行了细分。 通过从批次中 三个随机的 晶圆中选择 188 个器件， 对晶圆批次变体进行评估。 然后针对基准性能对 这些器件进行预先筛选， 接着在高 剂量率和 低剂量率之下将其 接触六种不同的 TID 级别， 范围从偏置条件和非偏置 条件下的 3 千拉德到 150 千拉德。 内部晶圆变体 作为批次变体 流程的一部分 进行自然评估， 但使用单独 晶圆的额外检查。 在该评估中， 我们从晶圆的 全部四个象限 以及中心中采样。 然后在偏置和 非偏置条件下 在 100 千拉德 RLAT 级别 对这些器件进行测试。 通过特性评 定流程可深入 了解器件，如 最坏情况、偏置 和剂量率条件。 然后使用通过特性 评定确定的最坏情况 偏置和剂量率条件 在指定的理想级别 执行 RLAT。 根据特性评定， 晶圆批次验收 或逐晶圆验收 将被采用，并且 将有效地针对 TID 故障对批次进行筛选。 这将为最终用户 提供出色的 RHA 产品。 我想我现在要 向您展示如何 通过查看标准 微电路图部件号 来确定器件 是否获得 RHA 资格。 所有 QML 器件都以 5962 开头。 不过，RHA 器件的 关键区别是 在 5962 编号后面 有一个字母。 该字母可 区分产品 所符合的 TID 级别， 从三千拉德 到以兆拉德。 在本例中，我突出显示了 R，表示 100 千拉德。 在右下角，您可以 看到我们的 TPS50601 六安防辐射降压转换器， 其中突出显示了样片和 bi-tab。 您可以看到，该器件 被认证为 100 千拉德 RHA 产品，5962 R 部件号 对其进行了指示。 现在您已经完全熟悉了 TI 的 RHA 流程，仅需 My TI 帐户即可 访问 TI 庞大的 辐射效应数据库。 我们在 www.ti.com/radiation 发布了 TID 摘要报告和 单粒子效应报告。 可以通过所示 链接指向的 QCI 系统下载向 国防后勤局 提供的官方 E 组辐射报告。 我还包含了一个 链接，该链接指向 有关访问所有 QLM V 类批次文档的详细说明。 感谢您花时间 了解 TI 广泛的 RHA 资质审核流程。
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产品的更多信息， 请访问 ti.com/space。
感谢您的观看。
今天，我将提供 有关 TI 防辐射
保障或 RHA 资质 审核过程的
简短教程。
在本次课程中， 我将讨论电离
辐射总剂量或 TID 性能如何
随硅加工中的 轻微差异而
变化。
这是有必要 在众多航天
器件中进行 RHA 资质 审核的主要原因。
接下来，我们将详细 讨论我们的 RHA 过程，
然后讨论如何分辨某个 产品是否通过了 RHA 认证。
最后，我将向您展示 如何下载给定产品的
辐射数据。
业界已 存在很多
TID 彻底 改变的案例，
这说明辐射性能 监控对于任务的
成功至关重要。
让我们讨论一些 TI 产品示例，我们可以
在其中直接看到该情况。
当 TI 几年前 收购 Unitrode 时，
双极工艺从 其原始的 Merrimack
和 G 工厂位置转移到 TI 的 Sherman 工厂设施。
由 Sherman 工厂 生产的最初
批次在低剂量率、TID 接触下接受了评估，
显示从 50 千拉德 到 5 千拉德的
显著下降。
通过修改 Sherman 工厂工艺，
我们能够将性能重新 增加到 50 千拉德。
与许多商业器件 不同，我们的 -SP 器件
来自单个工厂 并通过相同的
组装和测试 基地进行加工，
以最大限度地减小 工艺中的差异。
这样做可提供 对最终产品 TID
效应的控制。
我将要谈及的 下一个案例是 LM108。
在本例中，在一个月 之内加工了三个晶圆
批次，展示了从 10 到 100 千拉德的
性能差值。
这就是为何对每个 批次执行 TID 监控
至关重要的原因。
请放心，我们 发现问题并
确保我们的 客户不会接收到
10 千拉德单位。
最后，某些器件， 如 LM124 和 LM139，
可能是普适型 电气解决方案，
但它们在 TID 性能 方面可能有显著变化。
TI 有两款具有类似 电气性能的产品，
它们是以不同的技术 并在不同的工厂中
加工的。
在本例中，一款产品 是 50 千拉德，另一款
是 100 千拉德。
这显示了电气 普适性不一定
在辐射效应 方面等效。
TI 具有极可靠的 用于根据 MIL-PRF-38525
发行 RHA 器件的流程。
TI RHA 流程完全 符合 MIL 标准 883，
测试方法 1019 中 所述的准则。
RHA 流程包含 两个基本步骤
-- 特性评定和 辐射批次验收测试。
我们的 RHA 流程使用 不同的电离辐射总剂量率，
具体取决于所发布的 技术，如下所示。
TI 采用非常 广泛的特性
评定流程以通过 众多的不同变量
了解器件的 TID 性能。
这包含在多个 晶圆上通过
偏置和非偏置 条件评估晶圆
批次变体和 内部晶圆变体。
该特性评定 完成并通过之后，
接着以目标资质 审核剂量执行 RLAT。
为了真正了解 该流程有多么
详尽，我在 RLAT 测试 计划中使用了 BiCMOS
器件并对特性 评定进行了细分。
通过从批次中 三个随机的
晶圆中选择 188 个器件， 对晶圆批次变体进行评估。
然后针对基准性能对 这些器件进行预先筛选，
接着在高 剂量率和
低剂量率之下将其 接触六种不同的 TID 级别，
范围从偏置条件和非偏置 条件下的 3 千拉德到 150
千拉德。
内部晶圆变体 作为批次变体
流程的一部分 进行自然评估，
但使用单独 晶圆的额外检查。
在该评估中， 我们从晶圆的
全部四个象限 以及中心中采样。
然后在偏置和 非偏置条件下
在 100 千拉德 RLAT 级别 对这些器件进行测试。
通过特性评 定流程可深入
了解器件，如 最坏情况、偏置
和剂量率条件。
然后使用通过特性 评定确定的最坏情况
偏置和剂量率条件 在指定的理想级别
执行 RLAT。
根据特性评定， 晶圆批次验收
或逐晶圆验收 将被采用，并且
将有效地针对 TID 故障对批次进行筛选。
这将为最终用户 提供出色的 RHA 产品。
我想我现在要 向您展示如何
通过查看标准 微电路图部件号
来确定器件 是否获得 RHA
资格。
所有 QML 器件都以 5962 开头。
不过，RHA 器件的 关键区别是
在 5962 编号后面 有一个字母。
该字母可 区分产品
所符合的 TID 级别，
从三千拉德 到以兆拉德。
在本例中，我突出显示了 R，表示 100 千拉德。
在右下角，您可以 看到我们的 TPS50601
六安防辐射降压转换器， 其中突出显示了样片和 bi-tab。
您可以看到，该器件 被认证为 100 千拉德
RHA 产品，5962 R 部件号 对其进行了指示。
现在您已经完全熟悉了 TI 的 RHA 流程，仅需
My TI 帐户即可 访问 TI 庞大的
辐射效应数据库。
我们在 www.ti.com/radiation 发布了 TID 摘要报告和
单粒子效应报告。
可以通过所示 链接指向的 QCI
系统下载向 国防后勤局
提供的官方 E 组辐射报告。
我还包含了一个 链接，该链接指向
有关访问所有 QLM V 类批次文档的详细说明。
感谢您花时间 了解 TI 广泛的
RHA 资质审核流程。
[音乐播放] 大家好，我是 Chris Hart。 如果在观看本视频之后， 您想了解有关 TI 航天 产品的更多信息， 请访问 ti.com/space。 感谢您的观看。 今天，我将提供 有关 TI 防辐射 保障或 RHA 资质 审核过程的 简短教程。 在本次课程中， 我将讨论电离 辐射总剂量或 TID 性能如何 随硅加工中的 轻微差异而 变化。 这是有必要 在众多航天 器件中进行 RHA 资质 审核的主要原因。 接下来，我们将详细 讨论我们的 RHA 过程， 然后讨论如何分辨某个 产品是否通过了 RHA 认证。 最后，我将向您展示 如何下载给定产品的 辐射数据。 业界已 存在很多 TID 彻底 改变的案例， 这说明辐射性能 监控对于任务的 成功至关重要。 让我们讨论一些 TI 产品示例，我们可以 在其中直接看到该情况。 当 TI 几年前 收购 Unitrode 时， 双极工艺从 其原始的 Merrimack 和 G 工厂位置转移到 TI 的 Sherman 工厂设施。 由 Sherman 工厂 生产的最初 批次在低剂量率、TID 接触下接受了评估， 显示从 50 千拉德 到 5 千拉德的 显著下降。 通过修改 Sherman 工厂工艺， 我们能够将性能重新 增加到 50 千拉德。 与许多商业器件 不同，我们的 -SP 器件 来自单个工厂 并通过相同的 组装和测试 基地进行加工， 以最大限度地减小 工艺中的差异。 这样做可提供 对最终产品 TID 效应的控制。 我将要谈及的 下一个案例是 LM108。 在本例中，在一个月 之内加工了三个晶圆 批次，展示了从 10 到 100 千拉德的 性能差值。 这就是为何对每个 批次执行 TID 监控 至关重要的原因。 请放心，我们 发现问题并 确保我们的 客户不会接收到 10 千拉德单位。 最后，某些器件， 如 LM124 和 LM139， 可能是普适型 电气解决方案， 但它们在 TID 性能 方面可能有显著变化。 TI 有两款具有类似 电气性能的产品， 它们是以不同的技术 并在不同的工厂中 加工的。 在本例中，一款产品 是 50 千拉德，另一款 是 100 千拉德。 这显示了电气 普适性不一定 在辐射效应 方面等效。 TI 具有极可靠的 用于根据 MIL-PRF-38525 发行 RHA 器件的流程。 TI RHA 流程完全 符合 MIL 标准 883， 测试方法 1019 中 所述的准则。 RHA 流程包含 两个基本步骤 -- 特性评定和 辐射批次验收测试。 我们的 RHA 流程使用 不同的电离辐射总剂量率， 具体取决于所发布的 技术，如下所示。 TI 采用非常 广泛的特性 评定流程以通过 众多的不同变量 了解器件的 TID 性能。 这包含在多个 晶圆上通过 偏置和非偏置 条件评估晶圆 批次变体和 内部晶圆变体。 该特性评定 完成并通过之后， 接着以目标资质 审核剂量执行 RLAT。 为了真正了解 该流程有多么 详尽，我在 RLAT 测试 计划中使用了 BiCMOS 器件并对特性 评定进行了细分。 通过从批次中 三个随机的 晶圆中选择 188 个器件， 对晶圆批次变体进行评估。 然后针对基准性能对 这些器件进行预先筛选， 接着在高 剂量率和 低剂量率之下将其 接触六种不同的 TID 级别， 范围从偏置条件和非偏置 条件下的 3 千拉德到 150 千拉德。 内部晶圆变体 作为批次变体 流程的一部分 进行自然评估， 但使用单独 晶圆的额外检查。 在该评估中， 我们从晶圆的 全部四个象限 以及中心中采样。 然后在偏置和 非偏置条件下 在 100 千拉德 RLAT 级别 对这些器件进行测试。 通过特性评 定流程可深入 了解器件，如 最坏情况、偏置 和剂量率条件。 然后使用通过特性 评定确定的最坏情况 偏置和剂量率条件 在指定的理想级别 执行 RLAT。 根据特性评定， 晶圆批次验收 或逐晶圆验收 将被采用，并且 将有效地针对 TID 故障对批次进行筛选。 这将为最终用户 提供出色的 RHA 产品。 我想我现在要 向您展示如何 通过查看标准 微电路图部件号 来确定器件 是否获得 RHA 资格。 所有 QML 器件都以 5962 开头。 不过，RHA 器件的 关键区别是 在 5962 编号后面 有一个字母。 该字母可 区分产品 所符合的 TID 级别， 从三千拉德 到以兆拉德。 在本例中，我突出显示了 R，表示 100 千拉德。 在右下角，您可以 看到我们的 TPS50601 六安防辐射降压转换器， 其中突出显示了样片和 bi-tab。 您可以看到，该器件 被认证为 100 千拉德 RHA 产品，5962 R 部件号 对其进行了指示。 现在您已经完全熟悉了 TI 的 RHA 流程，仅需 My TI 帐户即可 访问 TI 庞大的 辐射效应数据库。 我们在 www.ti.com/radiation 发布了 TID 摘要报告和 单粒子效应报告。 可以通过所示 链接指向的 QCI 系统下载向 国防后勤局 提供的官方 E 组辐射报告。 我还包含了一个 链接，该链接指向 有关访问所有 QLM V 类批次文档的详细说明。 感谢您花时间 了解 TI 广泛的 RHA 资质审核流程。
[音乐播放]
大家好，我是 Chris Hart。
如果在观看本视频之后， 您想了解有关 TI 航天
产品的更多信息， 请访问 ti.com/space。
感谢您的观看。
今天，我将提供 有关 TI 防辐射
保障或 RHA 资质 审核过程的
简短教程。
在本次课程中， 我将讨论电离
辐射总剂量或 TID 性能如何
随硅加工中的 轻微差异而
变化。
这是有必要 在众多航天
器件中进行 RHA 资质 审核的主要原因。
接下来，我们将详细 讨论我们的 RHA 过程，
然后讨论如何分辨某个 产品是否通过了 RHA 认证。
最后，我将向您展示 如何下载给定产品的
辐射数据。
业界已 存在很多
TID 彻底 改变的案例，
这说明辐射性能 监控对于任务的
成功至关重要。
让我们讨论一些 TI 产品示例，我们可以
在其中直接看到该情况。
当 TI 几年前 收购 Unitrode 时，
双极工艺从 其原始的 Merrimack
和 G 工厂位置转移到 TI 的 Sherman 工厂设施。
由 Sherman 工厂 生产的最初
批次在低剂量率、TID 接触下接受了评估，
显示从 50 千拉德 到 5 千拉德的
显著下降。
通过修改 Sherman 工厂工艺，
我们能够将性能重新 增加到 50 千拉德。
与许多商业器件 不同，我们的 -SP 器件
来自单个工厂 并通过相同的
组装和测试 基地进行加工，
以最大限度地减小 工艺中的差异。
这样做可提供 对最终产品 TID
效应的控制。
我将要谈及的 下一个案例是 LM108。
在本例中，在一个月 之内加工了三个晶圆
批次，展示了从 10 到 100 千拉德的
性能差值。
这就是为何对每个 批次执行 TID 监控
至关重要的原因。
请放心，我们 发现问题并
确保我们的 客户不会接收到
10 千拉德单位。
最后，某些器件， 如 LM124 和 LM139，
可能是普适型 电气解决方案，
但它们在 TID 性能 方面可能有显著变化。
TI 有两款具有类似 电气性能的产品，
它们是以不同的技术 并在不同的工厂中
加工的。
在本例中，一款产品 是 50 千拉德，另一款
是 100 千拉德。
这显示了电气 普适性不一定
在辐射效应 方面等效。
TI 具有极可靠的 用于根据 MIL-PRF-38525
发行 RHA 器件的流程。
TI RHA 流程完全 符合 MIL 标准 883，
测试方法 1019 中 所述的准则。
RHA 流程包含 两个基本步骤
-- 特性评定和 辐射批次验收测试。
我们的 RHA 流程使用 不同的电离辐射总剂量率，
具体取决于所发布的 技术，如下所示。
TI 采用非常 广泛的特性
评定流程以通过 众多的不同变量
了解器件的 TID 性能。
这包含在多个 晶圆上通过
偏置和非偏置 条件评估晶圆
批次变体和 内部晶圆变体。
该特性评定 完成并通过之后，
接着以目标资质 审核剂量执行 RLAT。
为了真正了解 该流程有多么
详尽，我在 RLAT 测试 计划中使用了 BiCMOS
器件并对特性 评定进行了细分。
通过从批次中 三个随机的
晶圆中选择 188 个器件， 对晶圆批次变体进行评估。
然后针对基准性能对 这些器件进行预先筛选，
接着在高 剂量率和
低剂量率之下将其 接触六种不同的 TID 级别，
范围从偏置条件和非偏置 条件下的 3 千拉德到 150
千拉德。
内部晶圆变体 作为批次变体
流程的一部分 进行自然评估，
但使用单独 晶圆的额外检查。
在该评估中， 我们从晶圆的
全部四个象限 以及中心中采样。
然后在偏置和 非偏置条件下
在 100 千拉德 RLAT 级别 对这些器件进行测试。
通过特性评 定流程可深入
了解器件，如 最坏情况、偏置
和剂量率条件。
然后使用通过特性 评定确定的最坏情况
偏置和剂量率条件 在指定的理想级别
执行 RLAT。
根据特性评定， 晶圆批次验收
或逐晶圆验收 将被采用，并且
将有效地针对 TID 故障对批次进行筛选。
这将为最终用户 提供出色的 RHA 产品。
我想我现在要 向您展示如何
通过查看标准 微电路图部件号
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资格。
所有 QML 器件都以 5962 开头。
不过，RHA 器件的 关键区别是
在 5962 编号后面 有一个字母。
该字母可 区分产品
所符合的 TID 级别，
从三千拉德 到以兆拉德。
在本例中，我突出显示了 R，表示 100 千拉德。
在右下角，您可以 看到我们的 TPS50601
六安防辐射降压转换器， 其中突出显示了样片和 bi-tab。
您可以看到，该器件 被认证为 100 千拉德
RHA 产品，5962 R 部件号 对其进行了指示。
现在您已经完全熟悉了 TI 的 RHA 流程，仅需
My TI 帐户即可 访问 TI 庞大的
辐射效应数据库。
我们在 www.ti.com/radiation 发布了 TID 摘要报告和
单粒子效应报告。
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视频简介
TI空间产品的辐射硬度保证（RHA）工艺
所属课程：TI空间产品的辐射硬度保证（RHA）工艺
发布时间：2019.03.11
视频集数：1
本节视频时长：00:07:23
“总电离剂量（TID）变化问题
TI的辐射硬度保证（RHA）流程
标准微电路图（SMD）中的RHA指示符
如何下载辐射效应数据“
