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智能功放黑科技培训讲解 字幕
智能功放黑科技培训讲解
课程时长:31:16
视频集数:1
标签: 智能功放 功率放大器 智能控制 德州仪器 培训
智能功放黑科技培训讲解
TI 高精度实验室 - 电流反馈型运算放大器 字幕
TI 高精度实验室 - 电流反馈型运算放大器
课程时长:25:05
视频集数:2
标签: 电流反馈放大器 环路增益分析 TI 高精度实验室 电流 带宽
什么是电流反馈放大器,什么时候是您的系统设计的最佳选择? 在这个由两部分组成的系列中,您将了解电流反馈放大器的主要优点,即: 带宽与闭环增益无关,并且有非常高的转换率 您将学习如何在电流反馈放大器上执行环路增益分析(也称为稳定性分析),并将其与电压反馈放大器的环路增益分析技术进行比较。 最后,您将收到这两种放大器类型的综合摘要,这将使您能够为您的最终应用选择最佳的放大器。
输入和输出限制 2
输入和输出限制 2
课程时长:14:40
视频集数:1
标签: 运算放大器 输入拓扑 信号链 TI 高精度实验室 输入拓扑
本课程是TI高精度实验室系列的第2部分,讨论运算放大器的输入和输出限制。在本视频中,我们将讨论放大器内有关若干因素的详细信息,正是这些因素导致共模或输入电压范围限制,还将讨论不同运算放大器输入拓扑的优点和缺点。
TI 高精度实验室放大器系列 - 共模抑制和电源抑制
TI 高精度实验室放大器系列 - 共模抑制和电源抑制
课程时长:18:31
视频集数:2
标签: 运算放大器 共模抑制 电源抑制 TI 高精度实验室 电源电压
"抑制可能是一件好事,特别是在共模或电源电压错误的情况下。 本系列视频介绍了如何改变运算放大器的共模电压或电源电压,从而在交流和直流两端引入误差,以及如何通过运放内置的共模抑制和电源抑制来缓解这些误差。"
共模抑制
共模抑制
课程时长:8:24
视频集数:1
标签: 运算放大器 共模抑制 信号链 TI 高精度实验室 开环增益
本课程是TI高精度实验室系列的第4部分,关于设计低失真运算放大器电路。在本视频中,我们将讨论更改运算放大器上的共模电压会如何引入共模抑制误差。我们将考虑交流和直流共模抑制。最后,我们将考虑更改输入电压还会如何引入开环增益误差,以及区分共模与开环增益误差的方法。
功率与温度
功率与温度
课程时长:17:30
视频集数:1
标签: 运算放大器 功率 温度 信号链 TI 高精度实验室
本课程是TI高精度实验室视频,讨论运算放大器中的功率与温度之间的关系。在本视频中,我们将讨论直流和交流情况下的放大器功耗,介绍放大器的热模型,并使用此模型来计算放大器的结温,然后介绍放大器的绝对最高额定温度以及其内部热保护方案。
输入和输出限制 3
输入和输出限制 3
课程时长:13:06
视频集数:1
标签: 运算放大器 输出摆幅限制 信号链 TI 高精度实验室 短路输出保护
本课程是TI高精度实验室系列的第3部分,讨论运算放大器的输入和输出限制。在本视频中,我们将讨论输出摆幅限制的详细信息,包括双极与CMOS输出级之间的差异,以及输出负载和温度的影响。最后,我们将介绍短路输出保护的概念。
电源抑制
电源抑制
课程时长:10:07
视频集数:1
标签: 运算放大器 电源抑制 信号链 TI 高精度实验室 共模抑制
本课程是TI高精度实验室视频,了解共模抑制方面的知识。在本视频中,我们将讨论更改运算放大器上的电源会如何引入电源抑制误差。我们将考虑交流和直流电源抑制。最后,我们将考虑更改电源电压还会如何引入共模误差。
TI 高精度实验室放大器系列 - 介绍 字幕
TI 高精度实验室放大器系列 - 介绍
课程时长:13:54
视频集数:2
标签: 放大器 TI 高精度实验室 VirtualBench 德州仪器 虚拟仪器测试仪
这些介绍视频给出了TI高精度实验室课程的背景,并向所有有经验的工程师展示了这些视频的吸引力。 第二部视频介绍的是NI的VirtualBench,以供培训模块中的动手实验室使用。
运算放大器技术概述 字幕
运算放大器技术概述
课程时长:38:47
视频集数:1
标签: OPA365 运算放大器 CMOS JFET放大器 拓扑
CMOS,双极和JFET放大器有什么区别? 什么时候应该使用另一个? 什么时候应该使用没有输入交叉失真的放大器,输入交叉失真是什么? Zero-Drift,Chopper和auto-zero放大器怎么样? 本演示将帮助您了解如何根据拓扑类型快速选择合适的运算放大器。
高速和精密放大器,在测试和测量应用中实现卓越的系统性能
高速和精密放大器,在测试和测量应用中实现卓越的系统性能
课程时长:54:05
视频集数:2
标签: 放大器 测试测量 低功耗 终端设备 零漂移
TI 放大器的性能如何有助于实现高电压,宽带宽改善的噪声特性和信号链的低失真操作,同时在宽温度范围内保持系统精度。我们为这些市场带来的创新技术,如零漂移,一流的精密性能,低功耗和高阻抗级集成,有助于通过减少组件和提高测试系统的可靠性来降低整体系统成本。
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